ERFOLG DURCH INNOVATION

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Optisches Messverfahren zur Vermessung von Freiformflächen im Nanobereich

Aufgrund der großen Ablenkung des reflektierten Lichts, liefern gängige optische Messverfahren bei der Messung optischer oder geometrischer Eigenschaften von gekrümmten reflektierenden Oberflächen sehr ungenaue Messergebnisse.

 

Das zum Patent angemeldete Messsystem der Hochschule Bremen für die Formvermessung von stark gekrümmten Oberflächen und Freiformflächen nutzt einen speziellen Strahlteiler zur Unterteilung eines Prüfstrahl in Teilstrahlen, um den Oberflächenwinkel einer reflektierenden Oberfläche zu bestimmen. Die Messung findet nur in einer Ebene statt, was eine Messgenauigkeit im Nanometerbereich ermöglicht.

 

Beispiele für die Anwendung sind bei LED-Optiken oder Zierleisten für PKW. Die Entwicklung ist interessant für Hersteller von Sensoren oder von optischen Messsystemen.

 

© Hochschule Bremen

 

ANWENDUNGSBEREICH

Optische Messtechnik

SCHLÜSSELWÖRTER

Berührungsloses Messen, reflektierende Oberflächen, Freiformflächen, gekrümmte Flächen

SCHUTZRECHTE

DE 10 2016 209 090 A1
angemeldet
WO 2017/202924 A1
angemeldet

ANGEBOT

Lizenzierung, Verkauf,
Kooperation und Weiterentwicklung

EINE ERFINDUNG VON

Hochschule Bremen

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